MP150HR

100 à 650 °C
Pour les fours rotatifs, le clinker chaud, la détection des points chauds sur les applications de convoyage
Scanner linéaire IR, pour l’affichage thermique

Brochure

Le scanner linéaire infrarouge MP150 Raytek est conçu pour une utilisation dans des environnements industriels exigeants et fournit des images précises de la température d'objets en mouvement. Ce scanner linéaire multipoint peut capturer jusqu'à 1024 points de mesure par ligne et a une vitesse de balayage maximale de 150 lignes par seconde.

Un microprocesseur interne à grande vitesse traite toutes ces mesures de température. Le MP150 comprend un système de refroidissement par air ou par eau, trois sorties analogiques configurables et une communication numérique. Le scanner de lignes est également équipé d'un Ethernet TCP/IP intégré et d'un laser intégré.

Le MP150 peut être utilisé en mode autonome, connecté à un PC, ou intégré dans un système de contrôle de processus à l'aide de DataTemp DP, un progiciel industriel sous Windows, qui permet la configuration à distance du scanner à faisceau unique MP150 et la surveillance en temps réel du processus. Grâce à la fonctionnalité de serveur OPC du logiciel DataTemp DP, le scanner devient une partie intégrante d'une interface de commande distribuée (DCI) ou d'une interface homme-machine (IHM). Dans tous les cas, le MP150 offre des capacités de surveillance et de contrôle en temps réel.

Des modules de sortie analogiques ou numériques sont disponibles en option. Les systèmes d'imagerie de procédé MP150 sont disponibles avec différentes plages de température et régions spectrales pour différentes applications.

MP150 Scanner de ligne

• Affichage thermique en temps réel pour les processus continus ou discrets
• Jusqu'à 1024 points de mesure par ligne
• Angle de mesure de 90
• Vitesse de balayage rapide jusqu'à 150 lignes par seconde
• Résolution optique jusqu'à 200:1
• Laser linéaire intégré pour un alignement rapide
• Communication TCP/IP embarquée via Ethernet
• Large éventail de modèles et de gammes de mesures spectrales